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  • MIKROTEST覆層測(cè)厚儀德國(guó)EPK
    MIKROTEST覆層測(cè)厚儀德國(guó)EPK

    MIKROTEST覆層測(cè)厚儀德國(guó)EPK:MIKROTEST覆層測(cè)厚儀、測(cè)量鋼上所有非磁性涂層鍍層厚度(如漆、粉末涂層、塑料、鋅、銅、錫及鎳)。測(cè)量快速、、無(wú)損,三十多年來(lái)MIKROTEST覆層測(cè)厚儀已成為被廣泛應(yīng)用的自動(dòng)測(cè)定涂鍍層厚度的儀器。德國(guó)的“訣竅”說明它在工藝技術(shù)及精度方面,具有磁性覆層測(cè)厚儀的Z高水準(zhǔn)。

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  • 德國(guó)EPK Mikrotest G6測(cè)厚儀進(jìn)口正品
    德國(guó)EPK Mikrotest G6測(cè)厚儀進(jìn)口正品

    德國(guó)EPK Mikrotest G6測(cè)厚儀進(jìn)口正品 測(cè)量鋼上所有非磁性涂層鍍層厚度(如漆、粉末涂層、塑料、鋅、銅、錫及鎳)。測(cè)量快速、無(wú)損,三十多年來(lái)MICROTEST 已成為被廣泛應(yīng)用的自動(dòng)測(cè)定涂鍍層厚度的儀器。德國(guó)的“訣竅”說明它在工藝技術(shù)及精度方面,具有磁性覆層測(cè)厚儀的高水準(zhǔn)。

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  • 德國(guó)EPK測(cè)厚儀MiniTest70規(guī)格參數(shù)
    德國(guó)EPK測(cè)厚儀MiniTest70規(guī)格參數(shù)

    德國(guó)EPK測(cè)厚儀MiniTest70規(guī)格參數(shù) 快速簡(jiǎn)單的無(wú)損測(cè)量涂層厚度,兩種型號(hào) MiniTest 70 F :內(nèi)置探頭,測(cè)量鐵基體上的非磁性涂層 MiniTest 70 FN :內(nèi)置探頭,兩用型,測(cè)量鐵基體上的非磁性涂層,非鐵基體上的非導(dǎo)電涂層

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  • 德國(guó)EPK進(jìn)口QUINTSONIC 5測(cè)厚儀現(xiàn)貨
    德國(guó)EPK進(jìn)口QUINTSONIC 5測(cè)厚儀現(xiàn)貨

    QUINTSONIC超聲涂層測(cè)厚儀測(cè)量:探頭置于涂層表面,探頭將發(fā)出的超聲波脈沖穿過涂層到達(dá)基體,這些超聲波脈沖從各層界面依次反射,又被探頭的超聲傳感器所接受,微處理度和涂層總厚度。一次測(cè)量耗時(shí)少于2秒,數(shù)據(jù)被分組存儲(chǔ),接上MININPRINT打印機(jī),還可以打印輸出所有有序存儲(chǔ)的讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。

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  • 德國(guó)EPK Minitest 2100測(cè)厚儀上??偞? />
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  • 德國(guó)EPK Minitest4100測(cè)厚儀原理
    德國(guó)EPK Minitest4100測(cè)厚儀原理

    德國(guó)EPK Minitest4100測(cè)厚儀原理 德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn):MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;所有型號(hào)均可配所有探頭;可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

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  • elektrophysik測(cè)厚儀MiniTest 730參數(shù)
    elektrophysik測(cè)厚儀MiniTest 730參數(shù)

    elektrophysik測(cè)厚儀MiniTest 730參數(shù) SIDSP N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補(bǔ)償 -SIDSP使測(cè)量不受干擾,測(cè)值更加 -可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置) -FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體,使測(cè)量更迅速,避免操作錯(cuò)誤 -溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤 -大存儲(chǔ)量,能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)

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  • 德國(guó)EPK MiniTest 740測(cè)厚儀
    德國(guó)EPK MiniTest 740測(cè)厚儀

    德國(guó)EPK MiniTest 740測(cè)厚儀elektrophysik SIDSP探頭對(duì)溫度變化不敏感 在生產(chǎn)過程中,對(duì)每個(gè)SIDSP探頭都進(jìn)行了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a,這對(duì)于模擬探頭是根本不可能實(shí)現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會(huì)影響測(cè)量,與溫度相關(guān)的錯(cuò)誤不會(huì)在SIDSP探頭上發(fā)生!

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