elektrophysik測厚儀

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elektrophysik測厚儀MiniTest740

為了質量控制和檢驗的靈活性，MiniTest740可以輕易由內置探頭變換為外置探頭，方便測量難以到達的部位。SIDSP探頭具有*的抗干擾性、SIDSP－測量信號高穩(wěn)定性、預設選項節(jié)省您的時間和金錢、SIDSP探頭對溫度變化不敏感、SIDSP探頭適應性強、SIDSP N和FN型探頭基體導電性補償。

elektrophysik測厚儀MiniTest740主機參數(shù)

型號特性	MINITEST 720	MINITEST 730	MINITEST 740
探頭類型	內置	外置	內置外置可換
數(shù)據記憶組數(shù)	10	10	100
存儲數(shù)據量	zui多10,000個	zui多10,000個	zui多100,000個
統(tǒng)計值	讀值個數(shù)，zui小值，zui大值，平均值，標準方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計值（標準設置/自由配置）
校準程序符合標準和規(guī)范	ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準
校準模式	出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節(jié)補償值
極限值監(jiān)控	聲、光報警提示超過極限
測量單位	um，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度	-10℃-60℃
存放溫度	-20℃-70℃
數(shù)據接口	IrDA 1.0（紅外接口）
電源	2節(jié)AA電池
標準	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g（內置）/230g（外置）

MiniTest740主特點

--創(chuàng)新的SIDSP（探頭內部數(shù)字信號處理）技術提升了測量的性

－測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內置或外接探頭使用

－FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯

篤摯儀器（上海）有限公司的產品和系統(tǒng)方案廣泛應用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業(yè)，用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能，推動著精良制造技術的精益求精。