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QNix 4200/4500測(cè)厚儀操作說(shuō)明書(shū)

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QNix 4200/4500測(cè)厚儀操作說(shuō)明書(shū)

QNix 4200/4500測(cè)厚儀操作說(shuō)明書(shū)

一、 簡(jiǎn)介
德國(guó)尼克斯 QNIX 涂層測(cè)厚儀可無(wú)損測(cè)量磁體金屬基體(如鋼、 鐵、 合金和硬磁性鋼等) 上非磁性涂層的厚度(如鋁、 鉻、 銅、 琺瑯、 橡膠、 油漆等) 及非磁性金屬基體(銅、 鋁、 鋅、 錫等) 上的非導(dǎo)電覆層的厚度(如琺瑯, 橡膠, 油漆,塑料等)。 是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測(cè)儀器, 廣泛地用于在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、 化工業(yè)、 商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
注: 磁性金屬元素有鐵、 鈷、 鎳、 及鑭系元素。

德國(guó)尼克斯 QNIX 涂層測(cè)厚儀特點(diǎn):
零位穩(wěn)定: 所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位, 可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。 儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量前提。 一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后, 可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移, 確保準(zhǔn)確測(cè)量。
無(wú)需校準(zhǔn):多數(shù)涂層測(cè)厚儀除了校零外, 還需要用標(biāo)準(zhǔn)片一進(jìn)行調(diào)校。 測(cè)量某一范圍厚度, 要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。 主要是不能滿(mǎn)足全范圍內(nèi)的線(xiàn)性精度。 不僅操作煩瑣, 而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表而粗糙失效, 增大系統(tǒng)誤差。 尼克斯涂層測(cè)厚儀可以滿(mǎn)足全量程范圍內(nèi)數(shù)值準(zhǔn)確
溫度補(bǔ)償: 涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。 同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。 所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù), 以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
紅寶.石探頭: 探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。 普通金屬接觸探頭, 其表而磨損后會(huì)帶來(lái)很大的誤差。
*的直流采樣技術(shù):使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高。
單探頭量程大: 0 一 5mm
QNix 4200( 含 QNix 4200、 QNix 4200/5、 QNix 4200P、 QNix 4200P5) 可測(cè)量磁性金屬表而非磁性涂鍍層厚度。 (Fe)
QNix 4200( 含 QNix 4500、 QNix 4500/5、 QNix 4500P、 QNix 4500P5) 可測(cè)量磁性金屬表而非磁性涂鍍層厚度及非磁性金屬表面非導(dǎo)電涂層厚度。 (雙用)標(biāo)準(zhǔn):符合 ISO 2178,2630,2808 及 ASTM B 499, D7091 標(biāo)準(zhǔn)


.技術(shù)參數(shù)
 

型號(hào)一體/分體量程基體
QNix 4200一體Fe:0-3000μmFe
QNix 4200P分體Fe:0-3000μmFe
QNix 4200/5一體Fe:0-5000μmFe
QNix 4200P5分體Fe:0-5000μmFe
QNix 4500一體Fe/NFe:0-3000μmFe/NFe 兩用
QNix 4500P分體Fe/NFe:0-3000μmFe/NFe 兩用
QNix 4500/5一體Fe:0-5000μmFe/NFe 兩用
NFe:0-3000μ
QNix 4500P5分體Fe:0-5000μmFe/NFe 兩用
NFe:0-3000μ
測(cè)量范圍Fe:0-3000 或 0-
5000μm
Fe:0-3000 或 0-5000μm
NFe:0-3000μm
顯示精度0-99.9m:0.1μm
100-999μm: 1μm
≥1mm: 0.01μm

 

精度±(2+3%) μm≤2000μm
±(2+3%) μm>2000μm
小測(cè)量面積Fe:10× 10mm², NFe: 6× 6mm²
小曲率半徑凸半徑: 5mm, 凹半徑: 25mm
小基體FE:0.2mm, NFe:0.05mm
測(cè)量溫度范圍-10℃-60℃
溫度補(bǔ)償范圍0℃-5℃
分體型連接線(xiàn)長(zhǎng)
1m
電源2× 1.5V AA 堿性電池
尺寸100× 60× 27mm
重量(含電池)一體型: 105g, 分體型: 147g

測(cè)量
將儀器探頭垂直接觸被測(cè)物體的表面, 儀器將自動(dòng)測(cè)量出并顯示數(shù)據(jù)。 (建議用拇指和食指拿住儀器凹槽處使用, 分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用)
注意:測(cè)量時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表而、 并壓實(shí), 每測(cè)量一次后將儀器拿起, 離開(kāi)被測(cè)物體 10cm 以上, 再進(jìn)行下一點(diǎn)測(cè)量。

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